GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶

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基本信息
标准名称:太阳电池用硅单晶
英文名称:Monocrystalline silicon of solar cell
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2010-09-02
实施日期:2011-04-01
首发日期:2010-09-02
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:有研半导体材料股份公司、万向硅峰电子股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、西安隆基硅材料有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司
起草人:孙燕、张果虎、卢立延、楼春兰、蒋建国、曹宇、孙世龙、袁文强
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-04-01
页数:12页
适用范围

本标准规定了太阳电池用硅单晶的技术要求、试验方法,检验规则以及标志、包装、运输、贮存。
本标准适用于直拉掺杂制备的地面空间太阳电池用硅单晶。

前言

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引用标准

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GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T1554 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T1558 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T14140 硅片直径测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
SEMIMF1535 用微波反射光电导衰减法非接触测量硅片载流子复合寿命的测试方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
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【英文标准名称】:Structuralcushioningmaterialsforpackaging--Determinationofcushioningperformance
【原文标准名称】:包装用结构垫料.减震性能的测定
【标准号】:JISZ0240-2002
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2002-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonLogisticsandDistributionofGoods
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,定形寸法の試料が得られない構造体緩衝材料の評価試験方法について規定する。
【中国标准分类号】:A82
【国际标准分类号】:55_040;83_100
【页数】:10P;A4
【正文语种】:日语


基本信息
标准名称:塑料注射模零件 第18部分:定位圈
英文名称:Components of injection moulds for plastics - Part 18: Locating ring
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 模具
ICS分类: 机械制造 >> 无屑加工设备 >> 模制设备和铸造设备
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2007-03-26
实施日期:2007-04-01
首发日期:2006-12-08
作废日期:
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:中国电器工业协会
归口单位:全国模具标准化技术委员会(SAC/TC 33)
起草单位:桂林电器科学研究所、龙记集团、浙江亚轮塑料模架有限公司、昆山市中大模架有限公司
起草人:翁史振、蔡逢敬、廖宏谊、胡建林、王建军、李捷、黄新标
出版社:中国标准出版社
出版日期:2007-04-01
页数:平装16开 页数:5, 字数:5千字
计划单号:20067392-T-604
适用范围

本部分规定了塑料注射模用定位圈的尺寸规格和公差。
本部分适用与塑料注射模所用的定位圈。
本部分还给出了材料指南和硬度要求,并规定了定位圈的标记。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 机械 工艺装备 模具 机械制造 无屑加工设备 模制设备和铸造设备