DIN V VDE V 0126-18-6-2007 太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法
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时间:2024-05-28 07:31:46
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【英文标准名称】:Solarwafers-Part6:Methodforthemeasuringofsubstitutionalatomiccarbonandinterstitialoxygeninsiliconusedforphotovoltaic
【原文标准名称】:太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法
【标准号】:DINVVDEV0126-18-6-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:碳;结晶体;测定;含量测定;圆盘;电气工程;杂质;测量;测量技术;测量方法;氧;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能技术
【英文主题词】:Carbon;Crystalline;Definitions;Determination;Determinationofcontent;Disks;Electricalengineering;Impurities;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Oxygen;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法
【标准号】:DINVVDEV0126-18-6-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:碳;结晶体;测定;含量测定;圆盘;电气工程;杂质;测量;测量技术;测量方法;氧;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能技术
【英文主题词】:Carbon;Crystalline;Definitions;Determination;Determinationofcontent;Disks;Electricalengineering;Impurities;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Oxygen;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:德语
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